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<math>\begin{align} | <math>\begin{align} | ||
\rho_{xyz}=\frac{1}{V}\sum_{hkl} F_{hkl} \cdot \exp(2\pi i(hx+ky+lz)) \qquad & F_{hkl}=\sum_{i}f_{i}\,\exp\left[i\,\vec{G}\cdot\vec{r}_{i}\right] | \rho_{xyz}=\frac{1}{V}\sum_{hkl} F_{hkl} \cdot \exp(2\pi i(hx+ky+lz)) \qquad & F_{hkl}=\sum_{i}f_{i}\,\exp\left[i\,\vec{G}\cdot\vec{r}_{i}\right] | ||
\end{align}</math> | \end{align}</math> <math>(3)</math> | ||
ermöglicht die Berechnung der Elektronendichteverteilung ρxyz für jeden Punkt XYZ in der Einheitszelle. | ermöglicht die Berechnung der Elektronendichteverteilung ρxyz für jeden Punkt XYZ in der Einheitszelle. | ||
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Die Technik verwendet ein Strukturmodell basierend auf den direkt gemessenen |Fo, hkl|2-Werten, die in die folgende Patterson Funktion eingesetzt werden: | Die Technik verwendet ein Strukturmodell basierend auf den direkt gemessenen |Fo, hkl|2-Werten, die in die folgende Patterson Funktion eingesetzt werden: | ||
<math>{\displaystyle P(U,V,W)={\frac {1}{V}}\sum _{h=-\infty }^{\infty }\sum _{k=-\infty }^{\infty }\sum _{l=-\infty }^{\infty }|F(hkl)|^{2}\cdot {\text{exp}}[-2\pi {\text{i}}(hU+kV+lW)]}</math> <math>(3)</math> | |||
P_uvw= 1/V ∑_hkl |F_hkl |^2 ∙e^(-i2π(hu+kv+lw)) (3) | P_uvw= 1/V ∑_hkl |F_hkl |^2 ∙e^(-i2π(hu+kv+lw)) (3) |