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Die Technik verwendet ein Strukturmodell basierend auf den direkt gemessenen |Fo, hkl|2-Werten, die in die folgende Patterson Funktion eingesetzt werden: | Die Technik verwendet ein Strukturmodell basierend auf den direkt gemessenen |Fo, hkl|2-Werten, die in die folgende Patterson Funktion eingesetzt werden: | ||
<math>{\displaystyle P(U,V,W)={\frac {1}{V}}\sum _{h=-\infty }^{\infty }\sum _{k=-\infty }^{\infty }\sum _{l=-\infty }^{\infty }|F(hkl)|^{2}\cdot {\text{exp}}[-2\pi {\text{i}}(hU+kV+lW)]}</math> <math>(3)</math> | <math>{\displaystyle P(U,V,W)={\frac {1}{V}}\sum _{h=-\infty }^{\infty }\sum _{k=-\infty }^{\infty }\sum _{l=-\infty }^{\infty }|F(hkl)|^{2}\cdot {\text{exp}}[-2\pi {\text{i}}(hU+kV+lW)]}</math> <math>(3)</math> | ||
P_uvw= 1/V ∑_hkl |F_hkl |^2 ∙e^(-i2π(hu+kv+lw)) (3) | P_uvw= 1/V ∑_hkl |F_hkl |^2 ∙e^(-i2π(hu+kv+lw)) (3) |