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KathiE (Diskussion | Beiträge) |
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==Auswertung== | ==Auswertung== | ||
<div class="blocksatz">Für die Auswertung gibt es verschiedene Methoden. Je nach Analyseschwerpunkt werden visuelle Auswertungen durch direkten Anschluss an Monitore oder Spektrenanalysen durch EDX Analyse Methoden erschlossen (Eggert F., 2005).</div> | <div class="blocksatz">Für die Auswertung gibt es verschiedene Methoden. Je nach Analyseschwerpunkt werden visuelle Auswertungen durch direkten Anschluss an Monitore oder Spektrenanalysen durch EDX Analyse Methoden erschlossen (Eggert F., 2005).</div> | ||
==Vor- und Nachteile== | |||
Das REM ist eine sinnvolle Grundlage für qualitativ hochwertige Aussagen über Proben. | |||
<br><br> | |||
+ Durch Bilder kann ein Überblick nach der Mikroskopie geschaffen werden, da große Ausschnitte für die Aufnahme möglich sind<br> | |||
+ Man kann mehrere Methoden kombinieren (EBSD, EDS, KL) - quantitative Ergebnisse<br> | |||
+ Kann als vorbereitende Methode für die chemische Analytik von Mineralen verwendet werden (EMPA)<br> | |||
+ Mineralidentifizierung mittels EDS + Elementidentifikation in einem Material (wird als Vorbereitung zur Kalibration der Mikrosonde benötigt)<br><br> | |||
- Die chemische Analytik ist nur semiqantitativ (EMPA). | |||
==Einsatzbereiche== | ==Einsatzbereiche== | ||
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<li> Petrographie: Dünnschliffe </li> | <li> Petrographie: Dünnschliffe </li> | ||
</ul> | </ul> | ||
==Verzeichnis von Normen und Richtlinien== | ==Verzeichnis von Normen und Richtlinien== | ||
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==Ausstattung an der LMU== | ==Ausstattung an der LMU== | ||
[https://www.geologie.geowissenschaften.uni-muenchen.de/einrichtungen/raster/index.html| Rasterelektronenmikroskop] | |||
==Das könnte dich auch interessieren== | |||
[[:Kategorie:Analytik Methoden|Analytik]] | |||
[[:Kategorie:Analysemethoden|Analysemethoden]] | |||
==Referenzen== | |||
Jimenez J. & Tomm J.W. (2016): Spectroscopic Analysis of Optoelectronic Semiconductors. – 317 p.; Switzerland (Springer).<br> | |||
Biermann H. & Krüger L. (2015): Moderne Methoden der Werkstoffprüfung. – S. 440; Weinheim (Wiley-VCH).<br> | |||
Eggert F. (2005): Standardfreie Elektronenstrahl-Mikroanalyse – mit dem EDX im Rasterelektronenmikroskop. Ein Handbuch für die Praxis.- S. 187; Norderstedt.<br> | |||
Reimer L. & Pfefferkorn G. (1973): Rasterelektronenmikroskopie. – Berlin-Heidelberg (Springer). | |||
==Lehrveranstaltungen== | ==Lehrveranstaltungen== | ||
'''M.Sc. Geology:''' | '''M.Sc. Geology:''' | ||
<p style="“line-height:" 50%“> | <p style="“line-height:" 50%“> | ||
[[High Resolution Microscopic Methods| P 9.0.8, WP 5.0.4 High Resolution Microscopy]] | |||
</p> | </p> | ||
'''M.Sc. Geomaterialien und Geochemie:''' | '''M.Sc. Geomaterialien und Geochemie:''' | ||
<p style="“line-height:" 50%“> | <p style="“line-height:" 50%“> | ||
[[High Resolution Microscopic Methods| P 3.3 High Resolution Microscopy]] | |||
</p> | </p> | ||
==AutorInnen== | ==AutorInnen== |