Scanning Microscopy (Lehrveranstaltung)
| Course type | lecture |
| Information | LSF |
| Responsible(s) | Prof. Dr. Guntram Jordan |
| Eligible for | MSc Geomaterialien und Geochemie: WP9.5 |
| Course location | Kristallographie, Theresienstr. 41 |
| Date | WiSe |
| Course material | - |
Course content
Die Vorlesung vertieft zahlreiche Arten der verschiedenen etablierten Mikroskopietechniken, die unter dem Überbegriff Rastersondenmikroskopie zusammengefasst sind. Besonderes Gewicht wird dabei auf die in der Praxis zunehmend häufig verbreiteten Arten der Rastersondenmikroskopie gelegt: Rasterkraftmikroskopie (AFM), Rastertunnelmikroskopie (STM) und optische Nahfeldmikroskopie (SNOM).
Die Vertiefung der Rasterkraftmikroskopie umfasst dabei auch die neuen und zunehmend wichtigen Derivattechniken wie zum Beispiel Magnetic Force Microscopy, Conductive AFM, Scanning Capacitance Microscopy, Kelvin Probe Force Microscopy. Bei den verschiedenen Techniken werden die verschiedenen Abbildungsmodi, die Mechanismen der Kontrastentstehung und die damit verbundene Frage der Auflösungslimits behandelt. Ein weiterer Themenkomplex widmet sich über bloße Anwendungen hinausgehend besonders dem Gerätebau und den Möglichkeiten einer eigenständigen Geräteentwicklung, die im weiten Feld der Rastersondenmikroskopie dem exzellenten Wissenschaftler stets ganz besondere wissenschaftliche Potentiale eröffnet.
Die Übungen vertiefen die in der Vorlesung gewonnenen Kenntnisse zum einen an einem kommerziellen Rasterkraftmikroskop zum anderen auch an einem hydrothermalen Rasterkraftmikroskop (HAFM), das ein in Eigenentwicklung entstandenes Gerät ist. Besonderer Vorteil dieser Übungskonzeption ist, dass nicht nur konventionelle Anwendungsmöglichkeiten kommerzieller Geräte erlernt werden, sondern gerade die im Bereich der Geräteentwicklung möglichen Perspektiven und technischen Limits anschaulich vermittelt werden können.
(aus: Modulhandbuch M.Sc. Geomaterialien und Geochemie, 2014)
Analytical methods
- Scanning Probe Microscopy (SPM)
- Atomic Force Microscopy (AFM)
- Magnetic Force Microscopy
- Conductive Atomic Force Microscopy
- Scanning Capacitance Microscopy
- Kelvin Probe Force Microscopy
- Scanning Tunneling Microscopy (STM)
- Near-field Scanning Optical Microscopy (SNOM)
- Atomic Force Microscopy (AFM)
