WD-RFA Grundprinzip

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WD-RFA Grundprinzip
Methode
Englische Bezeichnung WD-XRF spectroscopy (Wavelenght Dispersive X-ray Fluorescence spectroscopy)
Was kann gemessen werden? Nachweis aller Elemente mit z (Ordnungszahl) < > 5 (Bor) möglich, gute Ergebnisse ab Na (z = 11)
Welche Materialien können gemessen werden? Schmelztabletten, Presstabletten, Flüssigkeiten
Zeitl. Aufwand insgesamt i.d.R. mehrere Wochen (Erstellung eines Gesteinspulvers, Präparation der Glas- und Schmelztablette, Analyse); Express in Ausnahmefällen bei Geräte- und Personalverfügbarkeit innerhalb von 3 Tagen
Kosten (f. Dienstleistung) Pro Probe: Hauptelemente (30-100 €),
Spurenelemente (50-150 €)
Aufbereitung
Generell mögliche Aufbereitungsarten? Schmelztabletten, Presstabletten, Flüssigkeiten
Aufbereitungsarten (an LMU)? Schmelztablette, Presstablette (Ausgangsmaterial Pulver < 63 µm)
Erforderliche Probenmenge Presstablette: 8 g
Schmelztablette: 3 g für LOI, davon 1 g für die Glastablette
Zeitl. Aufwand Probenaufbereitung (inkl. Reinigung) Zerkleinerung und Mahlen der Probe (einige Stunden)
Trocknen/Glühen/Schmelzen (siehe unten)
Trocknen/Pressen (siehe unten))
Messprozedur
Kalibration notwendig ✔ Ja vor jeder Messung notwendig
Administrator notwendig ✔ Ja
Messung = Dienstleistung ✔ Ja
Messung selbständig möglich (nach Einweisung) ✔ Ja, bedingt
Dauer der Messung pro Probe Abhängig von der Anzahl der zu messenden Elemente
Schmelztablette ca. 10-15 min/Probe
Presstablette (20-30 min/Probe)
Ausgabeformat Haupt- und Nebenelemente in Gewichtsprozent der Oxide (Gew.-%); Spurenelemente in ppm (Exceltabelle)
Bilder
RFA1.jpg
Blick auf den Probenwechsler eines Röntgenfluoreszenz-Spektrometers
RFA2.jpg
Glas-Tabletten in einem Probenwechsler eines Röntgenfluoreszenz-Spektrometers
Vom Feld ins Labor
Datei:Proenaufbereitung RFA.svg