WD-RFA Grundprinzip
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| WD-RFA Grundprinzip | |
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| Methode | |
| Englische Bezeichnung | WD-XRF spectroscopy (Wavelenght Dispersive X-ray Fluorescence spectroscopy) |
| Was kann gemessen werden? | Nachweis aller Elemente mit z (Ordnungszahl) < > 5 (Bor) möglich, gute Ergebnisse ab Na (z = 11) |
| Welche Materialien können gemessen werden? | Schmelztabletten, Presstabletten, Flüssigkeiten |
| Zeitl. Aufwand insgesamt | i.d.R. mehrere Wochen (Erstellung eines Gesteinspulvers, Präparation der Glas- und Schmelztablette, Analyse); Express in Ausnahmefällen bei Geräte- und Personalverfügbarkeit innerhalb von 3 Tagen |
| Kosten (f. Dienstleistung) | Pro Probe: Hauptelemente (30-100 €), Spurenelemente (50-150 €) |
| Aufbereitung | |
| Generell mögliche Aufbereitungsarten? | Schmelztabletten, Presstabletten, Flüssigkeiten |
| Aufbereitungsarten (an LMU)? | Schmelztablette, Presstablette (Ausgangsmaterial Pulver < 63 µm) |
| Erforderliche Probenmenge | Presstablette: 8 g Schmelztablette: 3 g für LOI, davon 1 g für die Glastablette |
| Zeitl. Aufwand Probenaufbereitung (inkl. Reinigung) | Zerkleinerung und Mahlen der Probe (einige Stunden) Trocknen/Glühen/Schmelzen (siehe unten) Trocknen/Pressen (siehe unten)) |
| Messprozedur | |
| Kalibration notwendig | Ja |
| Administrator notwendig | Ja |
| Messung = Dienstleistung | Ja |
| Messung selbständig möglich (nach Einweisung) | Nein |
| Dauer der Messung pro Probe | Abhängig von der Anzahl der zu messenden Elemente Hauot- und Nebenelemente (Schmelztablette) ca. 10-15 min/Probe Spurenelemente (Presstablette) ca. 20-30 min/Probe |
| Ausgabeformat | Haupt- und Nebenelemente in Gewichtsprozent der Oxide (Gew.-%); Spurenelemente in ppm (Exceltabelle) |
| Bilder | |
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| Vom Feld ins Labor | |
| Datei:Proenaufbereitung RFA.svg | |
