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In den Geowissenschaften ist [[Polarisationsmikroskopie]] eine der wichtigsten Standardmethoden zur optischen Analyse von Mineralbestand und Textur. In diesem Artikel sind die ersten Schritte bei der Arbeit am Polarisationsmikroskop zusammengefasst. Erst wenn das Mikroskop korrekt eingestellt ist, kann begonnen werden, die mineralogische Zusammensetzung der Probe anhand charakteristischer Eigenschaften zu bestimmen. Eine detaillierte Anleitung zum [[Mineralbestimmung im Dünnschliff|Gang einer Mineralbestimmung]], sowie eine Erklärung | In den Geowissenschaften ist die [[Polarisationsmikroskopie]] eine der wichtigsten Standardmethoden zur optischen Analyse von Mineralbestand und Textur. In diesem Artikel sind die ersten Schritte bei der Arbeit am Polarisationsmikroskop zusammengefasst. Erst wenn das Mikroskop korrekt eingestellt ist, kann begonnen werden, die mineralogische Zusammensetzung der Probe anhand charakteristischer Eigenschaften zu bestimmen. Eine detaillierte Anleitung zum [[Mineralbestimmung im Dünnschliff|Gang einer Mineralbestimmung]], sowie eine Erklärung zum [[Aufbau eines Mikroskops|Mikroskop Aufbaus]] gibt es in weiteren Artikeln im Tutorium Polarisationsmikroskopie. | ||
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Mit einem Kippschalter (meist rechts) kann die Beleuchtung und somit das Mikroskop eingeschalten werden. Die Intensität der Lichtquelle kann über einen Drehknopf (meist links) geregelt und mit der Leuchtfeldblende die Größe des beleuchteten Objektfeldes verändert werden. Das Beleuchtungsprinzip beruht auf einer [[Strahlengang im Mikroskop|definierten Strahlenführung]] im Beleuchtungsteil des Mikroskops, welche durch eine bestimmte Anordnung von Lichtquelle, Kollektor, Leuchtfeldblende, Aperturblende und Kondensor erreicht wird.<br/> | Mit einem Kippschalter (meist rechts) kann die Beleuchtung und somit das Mikroskop eingeschalten werden. Die Intensität der Lichtquelle kann über einen Drehknopf (meist links) geregelt und mit der Leuchtfeldblende die Größe des beleuchteten Objektfeldes verändert werden. Das Beleuchtungsprinzip beruht auf einer [[Strahlengang im Mikroskop|definierten Strahlenführung]] im Beleuchtungsteil des Mikroskops, welche durch eine bestimmte Anordnung von Lichtquelle, Kollektor, Leuchtfeldblende, Aperturblende und Kondensor erreicht wird.<br /> | ||
Transparente oder schwach absorbierende Materialien werden mit durchfallendem Licht abgebildet. Sie können also unter einem Durchlicht-/Polarisationsmikroskop betrachtet und analysiert werden. Opake Materialien, wie z.B. Erze oder Metalle, erscheinen im Durchlicht stets schwarz und können nur durch reflektiertes Licht abgebildet werden, wozu hingegen ein [[Auflichtmikroskopie|Auflichtmikroskop]] benötigt wird. | Transparente oder schwach absorbierende Materialien werden mit durchfallendem Licht abgebildet. Sie können also unter einem Durchlicht-/Polarisationsmikroskop betrachtet und analysiert werden. Opake Materialien, wie z.B. Erze oder Metalle, erscheinen im Durchlicht stets schwarz und können nur durch reflektiertes Licht abgebildet werden, wozu hingegen ein [[Auflichtmikroskopie|Auflichtmikroskop]] benötigt wird. | ||
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Der zu betrachtende Dünnschliff wird auf den Objekttisch gelegt, wobei beachtet werden muss, dass Ober- und Unterseite nicht vertauscht werden (Deckglas nach oben!). Der Objekttisch ist drehbar, kann jedoch durch die seitlichen Feststellschrauben fixiert werden. Er ist am Rand mit einer Gradskala versehen, sodass [[Winkelmessungen im Dünnschliff|Winkelmessungen]] (z.B. [[Spaltbarkeit|Spaltwinkel]], [[Auslöschungsschiefe]], etc.) vorgenommen werden können. | Der zu betrachtende Dünnschliff wird auf den Objekttisch gelegt, wobei beachtet werden muss, dass Ober- und Unterseite nicht vertauscht werden (Deckglas nach oben!). Der Objekttisch ist drehbar, kann jedoch durch die seitlichen Feststellschrauben fixiert werden. Er ist am Rand mit einer Gradskala versehen, sodass [[Winkelmessungen im Dünnschliff|Winkelmessungen]] (z.B. [[Spaltbarkeit|Spaltwinkel]], [[Auslöschungsschiefe]], etc.) vorgenommen werden können. | ||
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|style="width:70%;"|'''Sollte sich der Dünnschliff trotz Drehen des Objekttisches nicht mitdrehen, <br/> ist meist der Kondensor zu weit oben und muss abgesenkt werden!''' | | style="width:70%;" |'''Sollte sich der Dünnschliff trotz Drehen des Objekttisches nicht mitdrehen, <br /> ist meist der Kondensor zu weit oben und muss abgesenkt werden!''' | ||
| style="width:20%;"|[[Datei:Maxl_Achtung.png | 100px | left]] | | style="width:20%;" |[[Datei:Maxl_Achtung.png | 100px | left]] | ||
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Um mit beiden Augen ein scharfes Bild im Mikroskop zusehen, muss zuerst das Binokular auf den richtigen Augenabstand eingestellt werden. Man sieht mit einem Auge durch das [[Strahlengang im Mikroskop #Okular|Okular]] mit dem Fadenkreuz und stellt es durch den Justierring am Okular selbst scharf. Mit dem Grob- und Feintrieb verstellt man anschließend die Höhe des Objekttisches bis der Dünnschliff scharf erscheint. Als letztes sieht man mit dem anderen Auge durch das Okular ohne Fadenkreuz und stellt dieses durch Drehen am Justierring des Okulars ebenfalls möglichst scharf. | Um mit beiden Augen ein scharfes Bild im Mikroskop zusehen, muss zuerst das Binokular auf den richtigen Augenabstand eingestellt werden. Man sieht mit einem Auge durch das [[Strahlengang im Mikroskop #Okular|Okular]] mit dem Fadenkreuz und stellt es durch den Justierring am Okular selbst scharf. Mit dem Grob- und Feintrieb verstellt man anschließend die Höhe des Objekttisches bis der Dünnschliff scharf erscheint. Als letztes sieht man mit dem anderen Auge durch das Okular ohne Fadenkreuz und stellt dieses durch Drehen am Justierring des Okulars ebenfalls möglichst scharf. | ||
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Durch Drehen am Objektivrevolver kann zwischen [[Strahlengang im Mikroskop #Objektiv|Objektiven]] mit unterschiedlicher Vergrößerung gewechselt werden. Die Schärfe muss anschließend mittels Grob- und Feintrieb nachjustiert werden. | Durch Drehen am Objektivrevolver kann zwischen [[Strahlengang im Mikroskop #Objektiv|Objektiven]] mit unterschiedlicher Vergrößerung gewechselt werden. Die Schärfe muss anschließend mittels Grob- und Feintrieb nachjustiert werden. | ||
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|style="width:10%;"|'''<span style="color: red">Wichtig!</span> | | style="width:10%;" |'''<span style="color: red">Wichtig!</span>''' | ||
|style="width:70%;"|'''Zum Drehen niemals die einzelnen Objektive anfassen.''' | | style="width:70%;" |'''Zum Drehen niemals die einzelnen Objektive anfassen.''' | ||
'''Diese verändern sonst ihre Position und müssen neu zentriert werden!''' | '''Diese verändern sonst ihre Position und müssen neu zentriert werden!''' | ||
| style="width:20%;"|[[Datei:Maxl_Achtung.png | 100px | left]] | | style="width:20%;" |[[Datei:Maxl_Achtung.png | 100px | left]] | ||
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*Raith, M.M., Raase, P., Reinhardt, J. (2011): Leitfaden zur Dünnschliffmikroskopie | *Raith, M.M., Raase, P., Reinhardt, J. (2011): Leitfaden zur Dünnschliffmikroskopie | ||
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{{Autor|1=Carina Poetsch, Lina Seybold}} | {{Autor|1=Carina Poetsch, Lina Seybold}} | ||
[[Kategorie:Tutorium Polarisationsmikroskopie]] | [[Kategorie:Tutorium Polarisationsmikroskopie]] |
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