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| Auflösung =laterale Auflösung von 50 nm bis 10 nm | | Auflösung =laterale Auflösung von 50 nm bis 10 nm | ||
| Kosten (f. Dienstleistung) =Nutzung wird über den Betreuer geregelt | | Kosten (f. Dienstleistung) =Nutzung wird über den Betreuer geregelt | ||
| Aufbereitungsarten =polierte, nicht-abgedeckte Dünnschliffe | | Aufbereitungsarten =polierte, nicht-abgedeckte Dünnschliffe | ||
Polieren: chemisch-mechanisch, elektrochemisch, chemisches Ätzen mit Salpetersäure. | Polieren: chemisch-mechanisch, elektrochemisch, chemisches Ätzen mit Salpetersäure. | ||
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| Ausgabeformat =Bild, Spektrum, Euler Winkel, Polfiguren, Maps, Kikuchi Diagramme… | | Ausgabeformat =Bild, Spektrum, Euler Winkel, Polfiguren, Maps, Kikuchi Diagramme… | ||
|Bezeichnung=Electron backscatter diffraction (EBSD)|Messsung=Kristallografische Methode zur Analyse geometrischer Eigenschaften von Kristallen (Gitterebenen) < Abbildung von Oberflächentopographie und Materialkontrasten < Analytik an polierten Flächen: Bestimmung der vollständigen 3D Orientierung von kristallinen Materialien|Aufwand=Ggf. Dünnschliffpräparation (ggf. mehrere Tage) | |Bezeichnung=Electron backscatter diffraction (EBSD)|Messsung=Kristallografische Methode zur Analyse geometrischer Eigenschaften von Kristallen (Gitterebenen) < Abbildung von Oberflächentopographie und Materialkontrasten < Analytik an polierten Flächen: Bestimmung der vollständigen 3D Orientierung von kristallinen Materialien|Aufwand=Ggf. Dünnschliffpräparation (ggf. mehrere Tage) | ||
Politur (bis zu mehreren Stunden)|Kosten=|Probenmenge=wenige Milligramm ausreichend|Dienstleistung={{Ja}}|Dauer=|Bild1=|Bild2=|Bildbeschreibung1=|Bildbeschreibung2=|Chart | Politur (bis zu mehreren Stunden)|Kosten=|Probenmenge=wenige Milligramm ausreichend|Dienstleistung={{Ja}}|Dauer=|Bild1=|Bild2=|Bildbeschreibung1=|Bildbeschreibung2=|Chart=}} | ||
EBSD ist sowohl eine Analysemethode als auch ein Zusatztool im Rasterelektronenmikroskop, wobei die geometrischen Eigenschaften der Kristalle (Gitterebenen) auf einem Phosphorschirm als Bänderspektrum projiziert werden. | EBSD ist sowohl eine Analysemethode als auch ein Zusatztool im Rasterelektronenmikroskop, wobei die geometrischen Eigenschaften der Kristalle (Gitterebenen) auf einem Phosphorschirm als Bänderspektrum projiziert werden. |