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| Bildbeschreibung1 = Bei der EBSD wird die Probe in einem Winkel von 70° eingespannt und mit einem Elektronenstrahl beschossen. Anschließend können die rückgestrahlten Elektronen mit einem Phosphorschirm aufgefangen und detektiert werden. Dies geschieht in Form von sog. Kikuchi Pattern | | Bildbeschreibung1 = Bei der EBSD wird die Probe in einem Winkel von 70° eingespannt und mit einem Elektronenstrahl beschossen. Anschließend können die rückgestrahlten Elektronen mit einem Phosphorschirm aufgefangen und detektiert werden. Dies geschieht in Form von sog. Kikuchi Pattern | ||
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Die Elektronenrückstreubeugung (EBSD) ist sowohl eine Analysemethode als auch ein Zusatztool im [[Rasterelektronenmikroskopie (REM)|Rasterelektronenmikroskop (REM)]], wobei die geometrischen Eigenschaften der Kristalle (Gitterebenen) auf einem Phosphorschirm als Bänderspektrum projiziert werden. | Die Elektronenrückstreubeugung (EBSD) ist sowohl eine Analysemethode als auch ein Zusatztool im [[Rasterelektronenmikroskopie (REM)|Rasterelektronenmikroskop (REM)]], wobei die geometrischen Eigenschaften der Kristalle (Gitterebenen) auf einem Phosphorschirm als Bänderspektrum projiziert werden. | ||
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Um möglichst genaue Ergebnisse zu erhalten, erfolgt die Kalibration über simulierte EBSD-Muster als Referenz. Die Auflösung der HREBSD ist besser, als bei der EBSD. Dabei werden herkömmliche Muster der EBSD aufgewertet. | Um möglichst genaue Ergebnisse zu erhalten, erfolgt die Kalibration über simulierte EBSD-Muster als Referenz. Die Auflösung der HREBSD ist besser, als bei der EBSD. Dabei werden herkömmliche Muster der EBSD aufgewertet. | ||
==Spezielle Anforderungen an die Probennahme und –aufbereitung, Reinigung== | ==Spezielle Anforderungen an die Probennahme und –aufbereitung, Reinigung== | ||
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<li> Präparation einer planaren Oberfläche ohne plastische Verformung sehr aufwendig und schwer | <li> Präparation einer planaren Oberfläche ohne plastische Verformung sehr aufwendig und schwer | ||
</ul> | </ul> | ||
==Lehrveranstaltungen== | ==Lehrveranstaltungen== | ||
[[Quantitative Microfabric Analysis]] | [[Quantitative Microfabric Analysis]] | ||
==Ausstattung an der LMU== | ==Ausstattung an der LMU== | ||
http://trepmann.userweb.mwn.de/SEM.html | http://trepmann.userweb.mwn.de/SEM.html | ||
==Literatur== | |||
*A., Bastos da Silva Fanta (2008): Characterization of the microstructure, grain boundaries and texture of nanostructured electrodeposited CoNi by use of Electron Backscatter Diffraction (EBSD). - Göttingen (Springer). <br /> | |||
*H., Biermann, L., Krüger (2015): Moderne Methoden der Werkstoffprüfung. - Wiley VCH Verlag. | |||
==Referenzen== | ==Referenzen== | ||
<references /> | |||
==AutorInnen== | ==AutorInnen== | ||
{{Autor|1= Theresa Mond | {{Autor|1= Theresa Mond}} | ||
[[Kategorie:Analytik Methoden]] | [[Kategorie:Analytik Methoden]] | ||
[[Kategorie:Analytik Methoden nach Analysemethode]] | [[Kategorie:Analytik Methoden nach Analysemethode]] | ||
[[Kategorie:Bildgebende Methoden]] | [[Kategorie:Bildgebende Methoden]] |