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<li>Bei geringen Abweichungen von Gitterzellen entstehen Pseudosymmetrien die nicht beachtet werden dürfen | <li>Bei geringen Abweichungen von Gitterzellen entstehen Pseudosymmetrien die nicht beachtet werden dürfen | ||
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==Vor- und Nachteile== | |||
+ hohe Auflösung | |||
+ Probe muss nicht elektrisch leitfähig sein | |||
- Informationsverlust durch Projektion der Kristallverschiebung auf den Phosphorschirm | |||
- Verzerrungserscheinungen im Bild | |||
- Präparation einer planaren Oberfläche ohne plastische Verformung sehr aufwendig und schwer | |||
==Einsatzbereiche== | ==Einsatzbereiche== | ||
Die Methode ist zuverlässig und liefert schnelle Ergebnisse. Anwendungsgebiete befinden sich in der Mineralogie und den Materialwissenschaften.<ul> | Die Methode ist zuverlässig und liefert schnelle Ergebnisse. Anwendungsgebiete befinden sich in der Mineralogie und den Materialwissenschaften.<ul> | ||
* komplexe Werkstoffuntersuchungen | |||
* Untersuchung von Vollmaterial mit einer räumlichen Auflösung von bis zu 50 nm. | |||
==Ausstattung an der LMU== | ==Ausstattung an der LMU== | ||
http://trepmann.userweb.mwn.de/SEM.html | http://trepmann.userweb.mwn.de/SEM.html | ||
==Das könnte dich auch interessieren== | |||
[[:Kategorie:Analytik Methoden|Analytik]] | |||
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[[Einkristall-Diffraktion]] | |||
==Referenzen== | ==Referenzen== | ||
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H., Biermann, L., Krüger (2015): Moderne Methoden der Werkstoffprüfung. - Wiley VCH Verlag. | H., Biermann, L., Krüger (2015): Moderne Methoden der Werkstoffprüfung. - Wiley VCH Verlag. | ||
==Lehrveranstaltungen== | |||
[[Quantitative Microfabric Analysis]] | |||
==AutorInnen== | ==AutorInnen== |