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Die Energiedispersive Röntgenspektroskopie EDX (oder: Energiedispersive Röntgenanaylse (EDA) ist eine quantitative Messmethode über die Elementzusammensetzung einer Probe und wird in der Materialanalytik für Elemente der Ordnungszahl > 4 verwendet. Grundlage der Messung ist die Anregung der Elektronen aus der äußeren Schale eines Atoms (Photoelektrischer Effekt). Die Nachweisgrenze wird durch die Eindringtiefe des Elektronenstrahls im Rasterelektronenmikroskop limitiert. Die Analysemethode wird oft in verschiedene Geräte eingebaut: | {{Infobox Analytische Methoden | ||
| Farbraum = analytik | |||
<!--Methode--> | |||
| Bezeichnung = energy dispersive x-rax spectrocopy (EDX, EDA) | |||
| Messung = qualitative und quantitative Elementanalyse Z = 5-92 (Bor bis Uran) | |||
| Materialien = Gestein, Böden, Baustoffe, Metalle, Polymere, … | |||
| Aufwand = i.d.R. mehrere Tage, je nach Anlaysemethode (REM, TEM) Dünnschliffherstellung, Bedampfung der Probe | |||
| Kosten = | |||
<!--Aufbereitung--> | |||
| Aufbereitungsarten = i.d.R. jegliche Proben messbar (feste Materialien, Dünnschliffe) | |||
Probe muss trocken und elektrisch leitfähig sein (Beschichtung/Bedampfung z.B. mit Gold oder Kohlenstoff) | |||
| Aufbereitungsarten_LMU = polierte, nicht-abgedeckte Dünnschliffe | |||
| Probenmenge = > 20 | |||
| Aufwand_Probenaufbereitung = Ggf. Dünnschliffpräparation (mehrere Tage) | |||
anschließende zwei stündige Bedampfung mit Kohlenstoff. | |||
Ggf. feste Probe reinigen und ebenfalls ca. 2 Stunden mit Kohlenstoff bedampfen. | |||
<!--Messprozedur--> | |||
| Kalibration = {{Ja}} | |||
| Administrator = {{Ja}} | |||
| Dienstleistung = {{Ja}} | |||
| Selbständig = {{Ja}}, bedingt | |||
| Dauer = Abhängig von der Anzahl der zu messenden Elemente | |||
| Ausgabeformat = Spektrum | |||
}} | |||
Die Energiedispersive Röntgenspektroskopie EDX (oder: Energiedispersive Röntgenanaylse (EDA) ist eine quantitative Messmethode über die Elementzusammensetzung einer Probe und wird in der Materialanalytik für Elemente der Ordnungszahl > 4 verwendet. Grundlage der Messung ist die Anregung der Elektronen aus der äußeren Schale eines Atoms (Photoelektrischer Effekt). Die Nachweisgrenze wird durch die Eindringtiefe des Elektronenstrahls im Rasterelektronenmikroskop limitiert. Die Analysemethode wird oft in verschiedene Geräte eingebaut um bessere Ortsauflösungen zu erhalten: | |||
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<li>EM-EDX: Elementanalyse im mikroskopischen Maßstab. Durch die Kombination kann man auch Elementverteilungsbilder aufnehmen | <li>EM-EDX: Elementanalyse im mikroskopischen Maßstab. Durch die Kombination kann man auch Elementverteilungsbilder aufnehmen |