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Donja (Diskussion | Beiträge) |
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{{Infobox Analytische Methoden | |||
| Farbraum = analytik | |||
<!--Methode--> | |||
| Bezeichnung = Scanning electron microscope (SEM) | |||
| Messung = Abhängig von den Arbeitsbedingungen im nm bis µm Bereich (Feldemissionskathode) | |||
Abbildung von Oberflächentopographien (SE) | |||
Materialkontraste in oberflächennahen Bereichen(Elementverteilungsbilder fester Proben) <br /> | |||
chemische Unterschiede (BSE){{Absatz}} | |||
! | Analytik an polierten Flächen:<br /> | ||
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Materialkontraste in oberflächennahen Bereichen(Elementverteilungsbilder fester Proben) | |||
chemische Unterschiede (BSE) | |||
Analytik an polierten Flächen: | |||
Chemische Zusammensetzung (EDS) [semiquantitativ] | Chemische Zusammensetzung (EDS) [semiquantitativ] | ||
Bestimmung der vollständigen 3D Orientierung von kristallinen Materialien (EBSD) [keine spezielle Präparation nötig] | Bestimmung der vollständigen 3D Orientierung von kristallinen Materialien (EBSD) [keine spezielle Präparation nötig] | ||
Kathodoluminezenz (CL) | Kathodoluminezenz (CL) | ||
| | | Materialien = In Abhängigkeit zur Fragestellung können alle festen Materialien (organisch und anorganisch) gemessen werden. Die Größe ist lediglich auf die Dimension der Probenkammer beschränkt. | ||
| | | Aufwand = i.d.R. mehrere Wochen (Erstellung eines Gesteinspulvers, Präparation der Glas- und Schmelztablette, Analyse); Express in Ausnahmefällen bei Geräte- und Personalverfügbarkeit innerhalb von 3 Tagen | ||
| Kosten = 30-60€/Stunde | |||
Nutzung wird über den Betreuer geregelt | |||
! | <!--Aufbereitung--> | ||
| Aufbereitungsarten = i.d.R. jegliche Proben messbar (feste Materialien, Dünnschliffe)<br /> | |||
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Probe muss trocken und elektrisch leitfähig sein (Beschichtung/Bedampfung z.B. mit Gold oder Kohlenstoff) | Probe muss trocken und elektrisch leitfähig sein (Beschichtung/Bedampfung z.B. mit Gold oder Kohlenstoff) | ||
| | | Aufbereitungsarten_LMU = Für EDS/EBSD/CL Analytik: polierte, nicht-abgedeckte Dünnschliffe<br /> | ||
Für EBSD: zusätzliche chemisch-mechanische Politur | Für EBSD: zusätzliche chemisch-mechanische Politur | ||
Sputter/coating Gerät für Leitfähigkeit | Sputter/coating Gerät für Leitfähigkeit | ||
| | | Probenmenge = Gesteinsprobe muss minimal so groß sein, um einen Dünnschliff herzustellen. <br /> | ||
Die maximale Größe wird durch das Volumen der Probenkammer bestimmt. Die minimale Größe liegt bei > 20 µm. | Die maximale Größe wird durch das Volumen der Probenkammer bestimmt. Die minimale Größe liegt bei > 20 µm. | ||
Bei Zusatzgeräten wie EBSD, CL, EDS reicht eine geringere Probenmenge im mg Bereich. | |||
Das Korn muss kleiner als die Anregungsbirne des Probenstrahls sein. | Das Korn muss kleiner als die Anregungsbirne des Probenstrahls sein. | ||
| Aufwand_Probenaufbereitung = Ggf. Dünnschliffpräparation (mehrere Tage) anschließende zwei stündige Bedampfung mit Kohlenstoff. <br /> | |||
Ggf. feste Probe reinigen und ebenfalls ca. 2 Stunden mit Kohlenstoff bedampfen. <br /> | |||
Bei der Bestimmung der Morphologie von Fossilien in der Paläontologie wird mit Gold bedampft um leitfähige Proben zu erhalten | |||
<!--Messprozedur--> | |||
| Kalibration = {{Nein}} | |||
| Administrator = {{Ja}} | |||
| Dienstleistung = {{Ja}} | |||
| Selbständig = {{Ja}}, bedingt | |||
| Dauer = Abhängig von Zielsetzung und Anwendung. | |||
| Ausgabeformat = Bild, Spektrum, Euler Winkel, Polfiguren, Maps… | |||
}} | |||
Physikalische Methode zur Bestimmung von Oberflächen oder Elementzusammensetzungen. | |||
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===Grundprinzip=== | ===Grundprinzip=== | ||
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===Probenaufbereitung === | ===Probenaufbereitung === | ||
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