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FrankF (Diskussion | Beiträge) |
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<!--Methode--> | <!--Methode--> | ||
| Bezeichnung = Atomic Force Microscope (AFM) | | Bezeichnung = Atomic Force Microscope (AFM) | ||
| Messung = Festkörperoberflächen | | Messung = Das Höhenprofil von Festkörperoberflächen | ||
| Materialien = Minerale/Kristalle, Biomaterialien, Metalle, Gläser, Polymere, Beschichtungen, Adsorbate | | Materialien = Minerale/Kristalle, Biomaterialien, Metalle, Gläser, Polymere, Beschichtungen, Adsorbate | ||
| Aufwand = Wenige Stunden bis Tage | | Aufwand = Wenige Stunden bis Tage | ||
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| Aufbereitungsarten_LMU = | | Aufbereitungsarten_LMU = | ||
| Probenmenge = Millimeter große Oberflächen | | Probenmenge = Millimeter große Oberflächen | ||
| Aufwand_Probenaufbereitung = Abhängig von Probe und Fragestellung | | Aufwand_Probenaufbereitung = 30-60 Minuten, Abhängig von Probe und Fragestellung | ||
<!--Messprozedur--> | <!--Messprozedur--> | ||
| Kalibration = Metrik muss | | Kalibration = {{Ja}}Metrik muss für jede Probe einmal kalibriert werden | ||
| Administrator = {{Nein}} | | Administrator = {{Nein}}Nach Einarbeitung | ||
| Dienstleistung = {{Ja}} | | Dienstleistung = {{Ja}} | ||
| Selbständig = {{Ja}}, bedingt | | Selbständig = {{Ja}}, bedingt | ||
| Dauer = Abhängig von Fragestellung (Stunden bis Tage) | | Dauer = Abhängig von Fragestellung (Stunden bis Tage) | ||
| Ausgabeformat = Oberflächenmorphologie in | | Ausgabeformat = Digitale Abbildung (Jpeg) der Oberflächenmorphologie in unterschiedlichen Maßstäben.Im optimal Fall bis zu atomarer Auflösung | ||
| Bild1 = AFM.jpg|mini | | Bild1 = AFM.jpg|mini | ||
| Bildbeschreibung1 = Setup einer AFM Messung | | Bildbeschreibung1 = Setup einer AFM Messung |