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Die Rasterkraftmikroskopie ist eine Methode zur Bestimmung verschiedener Oberflächeneigenschaften, meist aber der Oberflächenmorphologie mit einer Ortsauflösung bis in den sub-nm-Bereich. Sie beruht auf einer elektro-mechanischen Wechselwirkung der Kräfte zwischen einer Oberfläche und einer Abtastsonde. | Die Rasterkraftmikroskopie ist eine Methode zur Bestimmung verschiedener Oberflächeneigenschaften, meist aber der Oberflächenmorphologie mit einer Ortsauflösung bis in den sub-nm-Bereich. Sie beruht auf einer elektro-mechanischen Wechselwirkung der Kräfte zwischen einer Oberfläche und einer Abtastsonde. | ||
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==Grundprinzip== | ==Grundprinzip== | ||
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*Kontamination bei der Probenahme oder –aufbereitung wie Staub oder Fingerabdrücke | *Kontamination bei der Probenahme oder –aufbereitung wie Staub oder Fingerabdrücke | ||
*Brechen der AFM Sonden-Spitze | *Brechen der AFM Sonden-Spitze | ||
*unebene Oberflächen | *unebene Oberflächen | ||
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*Bildgebendes Verfahren mit bis zu atomarer Auflösung | *Bildgebendes Verfahren mit bis zu atomarer Auflösung | ||
*schnellere Messung bei glatten Oberflächen | *schnellere Messung bei glatten Oberflächen | ||
*Empfindliche Messungen im sub-nm Bereich | *Empfindliche Messungen im sub-nm Bereich | ||
*Prozesse können in Echtzeit untersucht werden | *Prozesse können in Echtzeit untersucht werden | ||
=Probleme= | |||
==Probleme== | |||
*Nur lokale Prozesse können untersucht werden, keine Information über die Homogenität der Probe | *Nur lokale Prozesse können untersucht werden, keine Information über die Homogenität der Probe | ||
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*Hohe Sensitivität gegenüber Lärm- und Schwingungen im Labor oder Umgebung | *Hohe Sensitivität gegenüber Lärm- und Schwingungen im Labor oder Umgebung | ||
*Thermische bedingte Drift zwischen Probe und Sonde möglich | *Thermische bedingte Drift zwischen Probe und Sonde möglich | ||
==Einsatzbereiche== | ==Einsatzbereiche== | ||
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==Ausstattung an der LMU== | ==Ausstattung an der LMU== | ||
==Lehrveranstaltungen== | ==Lehrveranstaltungen== | ||
[[Rastersondenmikroskopie (Vorlesung und Übung)]] | [[Rastersondenmikroskopie (Vorlesung und Übung)]] | ||
==Referenzen== | ==Referenzen== | ||
==Weiterführende Literatur== | ==Weiterführende Literatur== | ||
==AutorInnen== | ==AutorInnen== | ||
{{Autor|1=Philipp Harder, Frank Förster, Prof. Dr. Jordan G.}} | {{Autor|1=Philipp Harder, Frank Förster, Prof. Dr. Jordan G.}} | ||
[[Kategorie:Analytik Methoden]] | [[Kategorie:Analytik Methoden]] |