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==Vor- und Nachteile== | ==Vor- und Nachteile== | ||
+ hohe Ortsauflösung von EDX Detektoren am TEM <br> | + hohe Ortsauflösung von EDX Detektoren am TEM <br> | ||
+ schnelle Identifikation von Elementen/Mineralen in der Probe durch ein vollständiges elementares Spektrum<br> | + schnelle Identifikation von Elementen/Mineralen in der Probe durch ein vollständiges elementares Spektrum<br> | ||
+ einfache Bestimmung und Unterscheidung von Akzessorien (Zirkon, Apatit, Rutil etc.)<br> | + einfache Bestimmung und Unterscheidung von Akzessorien (Zirkon, Apatit, Rutil etc.)<br> | ||
+ Charakterisierung einfach durch spezifische Röntgenstrahlung | + Charakterisierung einfach durch spezifische Röntgenstrahlung<br> | ||
- Nachweisgrenze ist sehr gering (< 0,1 Gew.%)<br> | - Nachweisgrenze ist sehr gering (< 0,1 Gew.%)<br> | ||
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==Das könnte dich auch interessieren== | ==Das könnte dich auch interessieren== | ||
[[:Kategorie:Analytik Methoden|Analytik]] | * [[:Kategorie:Analytik Methoden|Analytik]] | ||
* [[:Kategorie:Analysemethoden|Analysemethoden]] | |||
* [[Infrarotspektroskopie (IR-Spektroskopie)]] | |||
==Referenzen== | |||
* K., P., Severin (2004): Energy Dispersive Spectrometry of Common Rock Forming Minerals. Springer 225, Niederlande. | |||
* J., Goldstein, D.E., Newbury, D.C., Joy, C.E., Lyman, P., Echlin, E., Lifshin, L., Sawyer, J.R., Michael (2003): Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis. Springer, US. | |||
* L., Reimer (1998): Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis. Springer, Heidelberg. | |||
* R.F., Gerton (2005): Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM, and AEM. Springer, US. | |||
==Referenzen== | ==Referenzen== | ||
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==Autor:innen== | ==Autor:innen== |