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Methode zur optischen Identifizierung von Mineralen und möglicher abgelaufener Prozesse innerhalb einer Gesteinsprobe aufgrund von erkennbaren Strukturen. Besondere Art der Durchlichtmikroskopie, oft auch als Dünnschliffmikroskopie bezeichnet. | Methode zur optischen Identifizierung von Mineralen und möglicher abgelaufener Prozesse innerhalb einer Gesteinsprobe aufgrund von erkennbaren Strukturen. Besondere Art der Durchlichtmikroskopie, oft auch als Dünnschliffmikroskopie bezeichnet. | ||
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| '''Was kann gemessen werden?''' | | '''Was kann gemessen werden?''' | ||
| | | Optische Bestimmung des qualitativen und quantitativen Mineralgehalts, Texturanalysen, Untersuchung von Reaktionen abgelaufener Prozesse | ||
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| '''Welche Materialien können gemessen werden?''' | | '''Welche Materialien können gemessen werden?''' | ||
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| '''Zeitl. Aufwand insgesamt''' | | '''Zeitl. Aufwand insgesamt''' | ||
| je nach Probe und Zielsetzung (mehrere Stunden | | je nach Probe und Zielsetzung (mehrere Stunden, Tage, Wochen) | ||
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| '''Kosten (f. Dienstleistung)''' | | '''Kosten (f. Dienstleistung)''' | ||
| Dünnschliffpräparation (15- | | Dünnschliffpräparation (15-80€), abhängig auch von Größe und analysespezifischen Anforderungen | ||
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| '''Aufbereitungsarten (an LMU)?''' | | '''Aufbereitungsarten (an LMU)?''' | ||
| | |− abgedeckte (Dünn-) Schliffe <br> − polierte (Dünn-) Schliffe; <br> Karbonat- bzw. Sedimentschliffe | ||
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| '''Erforderliche Probenmenge''' | | '''Erforderliche Probenmenge''' | ||
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| '''Messung selbständig möglich (nach Einweisung)''' | | '''Messung selbständig möglich (nach Einweisung)''' | ||
|Ja | |Ja, nach einer Einführung in die Polarisationsmikroskopie | ||
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| '''Dauer der Messung pro Probe''' | | '''Dauer der Messung pro Probe''' | ||
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[[Kategorie:Analytik Methoden]] | [[Kategorie:Analytik Methoden]] | ||
[[Kategorie:Präparation Dünnschliff]] |
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