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===Grundprinzip=== | ===Grundprinzip=== | ||
<div class="blocksatz">Die Polarisationsmikroskopie ermöglicht es, feste Gesteinsproben in ihrem bestehenden Aggregatsverband zerstörungsfrei und mit relativ hoher Ortsauflösung zu betrachten. Zum Einen kann somit die mineralogische Zusammensetzung der Probe bestimmt werden, zum Anderen können aus den Gefügemerkmalen, wie Struktur, Textur und Phasenbestand Rückschlüsse auf die abgelaufenen Bildungsprozesse gezogen werden. Die Bestimmung der einzelnen Minerale erfolgt dabei anhand ihrer charakteristischen Eigenschaften, wie Eigenfarbe, Lichtbrechung, Doppelbrechung und Morphologie in verschiedenen Betrachtungsweisen. Ein Dünnschliff einer Gesteinsprobe wird dazu unter einem Polarisationsmikroskop untersucht. Dieses spezielle Durchlicht-Mikroskop arbeitet mit linear polarisiertem Licht, welches mit Hilfe von Polarisationsfolien erzeugt wird. Bei der Betrachtung einer Probe wird deshalb grundsätzlich zwischen der Betrachtung mit einfach polarisiertem Licht im Hellfeld und der Betrachtung mit gekreuzten Polarisatoren (Dunkelfeld) unterschieden. Bei letzterer sind die zwei Polarisatoren im 90° Winkel zueinander orientiert, sodass weitere charakteristische Eigenschaften der Minerale, wie z.B. die Interferenzfarbe in Erscheinung treten. Zusätzlich zum „normalen“ orthoskopischen Strahlengang gibt es noch die konoskopische Betrachtung zur Identifizierung der Indikatrix, der Schnittlage und des optischen Charakters der Minerale. | <div class="blocksatz">Die Polarisationsmikroskopie ermöglicht es, feste Gesteinsproben in ihrem bestehenden Aggregatsverband zerstörungsfrei und mit relativ hoher Ortsauflösung zu betrachten. Zum Einen kann somit die mineralogische Zusammensetzung der Probe bestimmt werden, zum Anderen können aus den Gefügemerkmalen, wie Struktur, Textur und Phasenbestand Rückschlüsse auf die abgelaufenen Bildungsprozesse gezogen werden. Die Bestimmung der einzelnen Minerale erfolgt dabei anhand ihrer charakteristischen Eigenschaften, wie Eigenfarbe, Lichtbrechung, Doppelbrechung und Morphologie in verschiedenen Betrachtungsweisen. Ein Dünnschliff einer Gesteinsprobe wird dazu unter einem Polarisationsmikroskop untersucht. Dieses spezielle Durchlicht-Mikroskop arbeitet mit linear polarisiertem Licht, welches mit Hilfe von Polarisationsfolien erzeugt wird. Bei der Betrachtung einer Probe wird deshalb grundsätzlich zwischen der Betrachtung mit einfach polarisiertem Licht im Hellfeld und der Betrachtung mit gekreuzten Polarisatoren (Dunkelfeld) unterschieden. Bei letzterer sind die zwei Polarisatoren im 90° Winkel zueinander orientiert, sodass weitere charakteristische Eigenschaften der Minerale, wie z.B. die Interferenzfarbe in Erscheinung treten. Zusätzlich zum „normalen“ orthoskopischen Strahlengang gibt es noch die konoskopische Betrachtung zur Identifizierung der Indikatrix, der Schnittlage und des optischen Charakters der Minerale. | ||
Eine umfassende Beschreibung des Mikroskop-Aufbaus, sowie | Eine umfassende Beschreibung des Mikroskop-Aufbaus, sowie eine Anleitung zur Polarisationsmikroskopie und Dünnschliff-Beschreibung gibt es auch in den [[Tutorien|GEOWiki@LMU Tutorien]].</div> | ||
===Spezielle Anforderungen an die Probennahme und –aufbereitung, Reinigung=== | ===Spezielle Anforderungen an die Probennahme und –aufbereitung, Reinigung=== |