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<!--Methode--> | <!--Methode--> | ||
| Bezeichnung = Thin Section Microscopy, Polarization Microscopy | | Bezeichnung = Thin Section Microscopy, Polarization Microscopy | ||
| Messsung = Optische Bestimmung des qualitativen und quantitativen Mineralgehalts, Texturanalysen, Untersuchung von Reaktionen abgelaufener Prozesse | | Messsung = Optische Bestimmung des qualitativen und quantitativen Mineralgehalts, Texturanalysen, Untersuchung von Reaktionen abgelaufener Prozesse <br> Nachweisgrenze: Mikrometerbereich (abhängig von verwendetem Objektiv) | ||
| Materialien = feste Gesteinsproben | | Materialien = feste Gesteinsproben | ||
| Aufwand = je nach Probe und Zielsetzung (mehrere Stunden, Tage, Wochen) | | Aufwand = je nach Probe und Zielsetzung (mehrere Stunden, Tage, Wochen) |