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{{Infobox Analytische Methoden | {{Infobox Analytische Methoden | ||
| Farbraum = analytik | | Farbraum = analytik | ||
<!--Methode--> | <!--Methode--> | ||
| Englische Bezeichnung = Electron backscatter diffraction (EBSD) | | Englische Bezeichnung = Electron backscatter diffraction (EBSD) | ||
| Materialien = Kristallografische Methode zur Analyse geometrischer Eigenschaften von Kristallen (Gitterebenen) < Abbildung von Oberflächentopographie und Materialkontrasten < Analytik an polierten Flächen: Bestimmung der vollständigen 3D Orientierung von kristallinen Materialien | | Materialien = Kristallografische Methode zur Analyse geometrischer Eigenschaften von Kristallen (Gitterebenen) < Abbildung von Oberflächentopographie und Materialkontrasten < Analytik an polierten Flächen: Bestimmung der vollständigen 3D Orientierung von kristallinen Materialien | ||
| Messung =Korn-/Texturanalysen und Orientierungsanalysen aller kristallinen Festkörper. | | Messung =Korn-/Texturanalysen und Orientierungsanalysen aller kristallinen Festkörper. | ||
</br>Größe beschränkt auf Dimensionen der Probenkammer | |||
| Auflösung =laterale Auflösung von 50 nm bis 10 nm | | Auflösung =laterale Auflösung von 50 nm bis 10 nm | ||
| Kosten (f. Dienstleistung) =Nutzung wird über den Betreuer geregelt | | Kosten (f. Dienstleistung) =Nutzung wird über den Betreuer geregelt | ||
<!--Aufbereitung--> | <!--Aufbereitung--> | ||
| Aufbereitungsarten =i.d.R. jegliche Proben messbar (feste Materialien, Dünnschliffe),Probe muss trocken sein | | Aufbereitungsarten =i.d.R. jegliche Proben messbar (feste Materialien, Dünnschliffe),Probe muss trocken sein | ||
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| Messung = Dienstleistung = {{Ja}} | | Messung = Dienstleistung = {{Ja}} | ||
| Messung selbständig möglich(nach Einweisung) | | Messung selbständig möglich(nach Einweisung) = {{Ja}} | ||
| Dauer der Messung pro Probe = abhängig von Zielsetzung und Anwendung = Abhängig von Zielsetzung und Anwendung. | |Dauer der Messung pro Probe = abhängig von Zielsetzung und Anwendung = Abhängig von Zielsetzung und Anwendung. | ||
| Ausgabeformat =Bild, Spektrum, Euler Winkel, Polfiguren, Maps, Kikuchi Diagramme… | | Ausgabeformat =Bild, Spektrum, Euler Winkel, Polfiguren, Maps, Kikuchi Diagramme… | ||
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