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*Hochauflösung ist durch die Größe der Spitze bestimmt (~10 nm) | *Hochauflösung ist durch die Größe der Spitze bestimmt (~10 nm) | ||
*Hohe Empfindlichkeit der Sonden (Spitze kann abstumpfen, zerstört oder beschmutzt werden) | *Hohe Empfindlichkeit der Sonden (Spitze kann abstumpfen, zerstört oder beschmutzt werden) | ||
*Langsamer als ein [[REM|Rasterelektronenmikroskop]] | *Langsamer als ein [[Rasterelektronenmikroskopie (REM)|Rasterelektronenmikroskop]] | ||
*Hohe Sensitivität gegenüber Lärm- und Schwingungen im Labor oder Umgebung | *Hohe Sensitivität gegenüber Lärm- und Schwingungen im Labor oder Umgebung | ||
*Thermische bedingte Drift zwischen Probe und Sonde möglich | *Thermische bedingte Drift zwischen Probe und Sonde möglich |