Rasterkraftmikroskop (AFM): Unterschied zwischen den Versionen

Feinarbeit ist hier notwendig, um die je nach Ausfertigung und Qualität zwischen 10 und 500 € teuren Sonden nicht zu zerstören. Die Halterung wird danach in das Gerät eingebaut, über der Probe zentriert und vorsichtig abgesenkt.  

Danach wird der Gang des Laserstrahls zwischen Laserdiode, Blattfeder und Photodiode zentriert. Schließlich wird die Sonde mit der Steuerungssoftware in kleinen Abständen an die Oberfläche angenähert bis es zu der ersten messbaren Auslenkung der Blattfeder kommt. Nun besteht Kontakt zwischen Oberfläche und Spitze und der Rastervorgang kann gestartet werden.  

==Probenaufbereitung==