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für die meisten Elemente gibt es mehrere Peaklinien. Man muss überprüfen ob alle Linien des Elements vorhanden sind und ob alle Intensitäten im richtigen Verhältnis stehen. Es gibt mögliche Peaküberlagerungen übereinander, wenn die Emission von verschiedenen Schalen in verschiedenen Elementen ausgeht (K, L, M) z.B. Mn Kα und Ti Kα. Eisen zeigt mehrere Peaks, v.a. Kα und Kβ peaks. | für die meisten Elemente gibt es mehrere Peaklinien. Man muss überprüfen ob alle Linien des Elements vorhanden sind und ob alle Intensitäten im richtigen Verhältnis stehen. Es gibt mögliche Peaküberlagerungen übereinander, wenn die Emission von verschiedenen Schalen in verschiedenen Elementen ausgeht (K, L, M) z.B. Mn Kα und Ti Kα. Eisen zeigt mehrere Peaks, v.a. Kα und Kβ peaks. | ||
== | ==Vor- und Nachteile== | ||
+ hohe Ortsauflösung von EDX Detektoren am TEM | |||
+ schnelle Identifikation von Elementen/Mineralen in der Probe durch ein vollständiges elementares Spektrum | |||
+ einfache Bestimmung und Unterscheidung von Akzessorien (Zirkon, Apatit, Rutil etc.) | |||
+ Charakterisierung einfach durch spezifische Röntgenstrahlung | |||
- Nachweisgrenze ist sehr gering (< 0,1 Gew.%) | |||
- Messungenauigkeit durch Rauschen oder nicht auflösbarer Linieninterferenzen möglich | |||
- keine Detektion von leichten Elementen möglich (alle Atomnummern nach Natrium) | |||
- WDS viel präziser und fähig niedrige Elemente zu detektieren (besser für chemische Analyse) | |||
==Das könnte dich auch interessieren== | |||
[[:Kategorie:Analytik Methoden|Analytik]] | |||
[[:Kategorie:Analysemethoden|Analysemethoden]] | |||
==Referenzen== | ==Referenzen== | ||
K., P., Severin,(2004): Energy Dispersive Spectrometry of Common Rock Forming Minerals. Springer 225, Niederlande. | |||
J., Goldstein, D.E., Newbury, D.C., Joy, C.E., Lyman, P., Echlin, E., Lifshin, L., Sawyer, J.R., Michael (2003): Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis. Springer, US. | |||
L., Reimer (1998): Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis. Springer, Heidelberg. | |||
R.F., Gerton (2005): Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM, and AEM. Springer, US. | |||
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==Weitere Informationen und Literatur== | ==Weitere Informationen und Literatur==--> | ||
==AutorInnen== | ==AutorInnen== | ||
{{Autor|1=Theresa Mond}} | {{Autor|1=Theresa Mond}} |